Caracterización estructural y óptica de películas delgadas de dióxido de titanio depositadas por rociado pirolítico

Authors

  • Ricardo Otilio Verde Vera
  • Oscar Enrique Tang Cruz
  • Juan Manuel Pesantes Rojas
  • Eusebio Idelmo Cisneros Tarmeño
  • Julio Alfonso Arakaki Kiyán
  • Hernan Oscar Cortez Gutierrez
  • Milton Milciades Cortez Gutierrez

DOI:

https://doi.org/10.46932/sfjdv2n2-079

Keywords:

dióxido de titânio, películas delgadas, rociado pirolítico, difracción, energía de banda prohibida

Abstract

Se sintetizó películas de dióxido de titanio (TiO2) por rociado pirolítico, mediante una solución precursora de diisopropóxido de titanio estabilizado con acetil–acetonato al 75 % en isopropanol disuelto en metanol. Esta solución se roció sobre sustratos de vidrio en una cámara de reacción a 30 psi de presión a diferentes temperaturas (380, 430 y 480 y 380 recocida a 500 °C). La difracción de rayos X (DRX), estudió, el tamaño de grano, microtensión y parámetros de red. La espectroscopia UV–Vis, estudió la transmitancia, índice de refracción, espesor de las películas y ancho de banda prohibida. El equipo de cuatro puntas colineales estudió la relación voltaje–corriente. A 380 °C, la película es amorfa y las demás presentaron fase anatasa con pico predominante (101). La película crecida a 480 °C presenta el pico de rutilo (211). El tamaño de grano disminuye y la microtensión aumenta con la temperatura. Las películas de 480 y 500 °C muestran regular transparencia en la región visible (50–75 %). El índice de refracción se encuentra el rango de 1,96–2,43 y el ancho de banda prohibida tiene aproximadamente 3,2 eV. La gráfica voltaje – corriente, es lineal para las muestras crecidas a 480 °C.

Published

2021-05-17